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带电粒子致细胞失活的理论模型

曹天光 , 马云志 , 孔福全 , 杨明建 , 卓益忠

原子核物理评论 doi:10.3969/j.issn.1007-4627.2007.02.003

介绍了经辐射损伤后细胞失活或存活的理论模型及相关问题的一些研究工作.重点考虑了径迹结构和能量沉积特点的新的细胞失活模型.在径迹结构模拟的基础上,计算并分析了DNA损伤谱,同时把径迹结构得到的损伤谱与细胞存活联系起来,初步在分子水平上理解了细胞失活或存活的机制.

关键词: 存活率 , DNA损伤